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EM-Kleen, ein Plasma Reiniger der Spitzenklasse Remote-Down-Stream-Asher für schonenden Anwendung
Verbessern Sie die Auflösung Ihres Mikroskopes.
Erhöhen Sie die SE-Elektronen-Ausbeute
Steigern Sie die Zählrate für Ihr EDX-System
Reinigen Sie vollautomatisch Proben und Probenkammer
Das NW-EM-Kleen System kommt mit einer
kompakten Quelle
die mit einem
NW40 - oder
CF2.75" - Flansch
ausgestattet ist.
Eine Vielzahl von
Geräteflanschen unterschiedlicher
Hersteller EM-Kleen Quelle
ist verfügbar.
TouchScreen Rack-Kontroller
TouchScreen Desktop Kontroller
Der Down-Stream-Asher EM-Kleen von PIE Scientific
ist für Arbeiten im:
Hochvakuum und im
Vorvakuum bestens geeignet
Die Lösung zur Beseitigung von Kontamination durch Kohlenwasserstoffe und Flourkohlenwasserstoffe in der Probenkammer oder auf der Probe.
Passend zu Systemen wie: SEM, FIB, TEM, XPS etc.
Automatische Gerätesteuerung durch Software !!! KEINE KNÖPFE!!!KEINE REGLER!!!
Der intuitiv zu bedienende Kontroller kann als Desktop- oder -"Rack-Mounted" Version geliefert werden.
Im System können bis zu 60 Rezepte hinterlegt und verwaltet werden
Geräte Ausstattungs-Merkmale:
Vakuum-Sensor, integriert
Plasma-Intensitäts-Sensor
Gasflußregelung-automatisch
Kühlung, durch integriertem Lüfter
PC Software
ext. Steuerung vom PC möglich
NW/KF 40 Flansch oder
CFZ 2.75" Flansch
Das video zeigt das Prinzip von "remote plasma cleaning" bei REM, FIB.
Die Anwendung von EM-KLEEN und SEMI-KLEEN ist gleich.
Das Urheberrecht des Videos liegt bei PIE Scientific
Mit einer zusätzlich Vakuumkammer, extern auf einem Gerätewagen und einer Vorpumpe, kann er zu einer Reinigunsstation für Proben erweitert werden.
Auch hier findet der Prozess ohne energetisches Ionensputtern statt. Diese Anwendung ist für eine schonende Probenreinigung auch fragiler Dünnschichten und empfindlicher Proben geeignet.
Der Wechsel der Quelle ist Dank NW40 Flansch und Schnellverschlußklemme eine Angelegenheit von Sekunden.
Wir führen Ihnen den Plasma Reiniger gerne vor und schicken Ihnen gerne ein Angebot.
Alle genannten Markennamen, Logos, Programme und Warenzeichen sind Eigentümer der jeweiligen Inhaber.
Das Copyright der auf diesen Seiten gezeigten Bilder liegt bei PIE Scientific LLC und bei Target-Messtechnik
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