Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot 

Für weitere Geräte - Info´s oder ein Angebot, bitte den gewünschten Geräte-Typ angeben

Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen

Chamber View-Infrarot Kamera´s

Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.

Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.

Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:

Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme

ergänzen unser Angebot.

Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von  Element-Standards, (Neu/Gebraucht).

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Rasterelektronenmikroskop ZEISS - EVO40XVP variable pressure

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EDX Analyse System      gebraucht für z.B. Zeiss-EVO-REM

EDX System Oxford    /   SDD System Inca x-act premium

Analysensystem mit Stickstofffreiem

Premium Detektor 133eV

Gerät mit PC-WIN7 und TFT-Monitor

Gerät mit div Lizenzen: Analyzer/Point&ID/Mapping/Feature

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Rasterelektronenmikroskop  ZEISS - EVO60EP   extended pressure

REM: Ausstattung/Spezifikationen

Gerät mit Wolfram-Kathode

vorbereitet für Lab6 Betrieb. D.h. IGP Pumpsystem für Gunbereich und die benötigten Ventile sind vorhanden. Optional mit zusätzlicher LaB6 Kathode

(einfach Umsteckbar und via Software anwählbar)

Detektoren

      SE, VPSE, BSD-4Quadranten 

      Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung

External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System

Inklusiv Softwarelinzenz REMCON

Probentisch

      5 Achsen motorisiert, Kartesisch

      X = 100 mm, Y = 125 mm, Z = 123mm (35 mm motorisiert, 61mm mit Distanzstück),

      T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)

Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben

Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller

Joystickbox  zur Tischkontrolle/ und Maus

ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface

     Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung,  inkl. PC-Keyboard

Probenkammer 420 mm (Ø) x 310 mm (h),

     8 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

     an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen

Auflösung HV SE-Modus   

3.0nm mit Wolframkathode

2.0nm mit LaB6-Kathode

         XVP® RE-Modus
4.5nm @ 30kV (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)

Anregungs-Spannung    0.2 to 30 kV

Vergrößerungsbereich    5 to 1,000,000x

Sondenstrom    0,5pA – 5uA

EDX Port für X-ray Analyse     8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel

Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)

     Vorvakuum - Standart:  Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

                          EP Mode: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

     Hochvakuum -  Turbomolekular Pumpe

      IGP- für Gunbereich

      XVP® Druckbereich / EP Druckbereich

      5 - 750Pa with air

      5 - 3000Pa with air

      5 - 2000Pa wizh water vapour

PC Midi Tower

®WIN10 /  64Bit,      ,

      2x 24“ TFT,      PC Maus cordless

Zeiss SmartSEM® 64Bit /  div. Lizenzen

Bild Verarbeitung    
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition
Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel

System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss 
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)

OptiBeam®* Mode     Resolution, Depth, Analysis, Large Field

Das Gerät ist luftgekühlt

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LEO 400er Systeme

Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop

Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440

Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.

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Das Copyright der auf diesen Seiten gezeigten Bilder liegt bei Carl Zeiss Microscopy GmbH, 73447 Oberkochen

und bei Target-Messtechnik

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