Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot 

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Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen

Chamber View-Infrarot Kamera´s

Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.

Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.

Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:

Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme

ergänzen unser Angebot.

Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von  Element-Standards, (Neu/Gebraucht).

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REM: Ausstattung/Spezifikationen

Gerät mit Wolfram-Kathode

Detektoren

HV-SE,  BSD-4Quadranten

Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung

External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System

Inklusiv Softwarelinzenz REMCON

Probentisch

5 Achsen motorisiert, Kartesisch

X = 80 mm, Y = 80 mm, Z = 35 mm motorisiert

T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)

Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben

Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller

Maximales Probengewicht

bis zu 0,5 kg gekippt

bis zu 2,0 kg ungekippt

Maximale Probengröße

Höhe 100mm (ohne ZTR Modul)

Durchmesser 200mm bei Analysenabstand

Probenkammer 365 mm (Ø) x 220 mm (h),

7 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen

Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus

ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface

Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard

Auflösung

HV SE-Modus  3.0nm mit Wolframkathode

XVP BSD 4.5nm (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)

Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV

Vergrößerungsbereich 7 to 1,000,000x

Sondenstrom 0,5pA – 5uA

EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel

Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)

Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe

XVP® Druckbereich  5 - 750Pa

PC Midi Tower

®WIN10 / 64Bit, ,

2x 24“ TFT, PC Maus cordless

Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen

Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige- Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel

System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)

OptiBeam®* Mode Resolution, Analysis, Large Field

Das Gerät ist luftgekühlt

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EDX System   Oxford- SDD              System Inca x-act premium

Analysensystem mit Stickstofffreiem

Premium Detektor 133eV

Gerät mit PC-WIN7 und TFT-Monitor

Gerät mit div Lizenzen:    Analyzer/Point&ID/Mapping/Feature

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Rasterelektronenmikroskop  ZEISS - EVO60EP   extended pressure

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LEO 400er Systeme

Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop

Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440

Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.

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