Gebrauchtgeräte

Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot 

                                                                                                                 

Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen

Chamber View-Infrarot Kamera´s

Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.

Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.


Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:

Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme

ergänzen unser Angebot.


Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von  Element-Standards, (Neu/Gebraucht).


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Rasterelektronenmikroskop  ZEISS - EVO60EP   extended pressure

Bild 1: EVO 60EP

REM: Ausstattung/Spezifikationen


Gerät mit Wolfram-Kathode

vorbereitet für Lab6 Betrieb. D.h. IGP Pumpsystem für Gunbereich und die beötigten Ventile sind vorhanden. Optional mit zusätzlicher LaB6 Kathode

(einfach Umsteckbar und via Software anwählbar)


Detektoren

      SE, VPSE, BSD-4Quadranten 

      Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung

External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System

Inklusiv Softwarelinzenz REMCON

Probentisch

      5 Achsen motorisiert, Kartesisch

      X = 100 mm, Y = 125 mm, Z = 123mm (35 mm motorisiert, 61mm mit Distanzstück),

      T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)

Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben

Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller


Joystickbox  zur Tischkontrolle/ und Maus


ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface

     Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung,  inkl. PC-Keyboard


Probenkammer 420 mm (Ø) x 310 mm (h),

     8 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

     an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen

Auflösung HV SE-Modus   

3.0nm mit Wolframkathode

2.0nm mit LaB6-Kathode

         XVP® RE-Modus
4.5nm @ 30kV (BSD – lens mounted 4Q-BSD-Detektor)

Anregungs-Spannung    0.2 to 30 kV


Vergrößerungsbereich    5 to 1,000,000x


Sondenstrom    0,5pA – 5uA


EDX Port für X-ray Analyse     8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel


Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)

     Vorvakuum - Standart:  Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

                          EP Mode: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter

     Hochvakuum -  Turbomolekular Pumpe

      IGP- für Gunsektion

      XVP® Druckbereich / EP Druckbereich

      5 - 750Pa with air

      5 - 3000Pa with air

      5 - 2000Pa wizh water vapour


PC Midi Tower

®WIN10 /  64Bit,      ,

      2x 24“ TFT,      PC Maus cordless

Zeiss Smart SEM 64Bit /  div. Lizenzen


Bild Verarbeitung    
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition
Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel


System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss 
Mehrsparchiges GUI (Grafik Benutzer Interface)


OptiBeam®* Mode     Resolution, Depth, Analysis, Large Field


Das Gerät ist Luftgekühlt

 Bild2: Carl Zeiss User Interface

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EDX System   Brukker SDD

optional  / Spezifikation folgen


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Rasterelektronenmikroskop LEO 1450VP


REM: Ausstattung/Spezifikationen

Arbeiten im:

Hochvakum und variables Vakuum bis 400Pa möglich

WIN10 Ultimate  64Bit,

PC Midi Tower, 2x 24“ TFT, PC Maus cordless

Zeiss Smart SEM 64Bit

ZEISS Hardware User Interface / inkl. PC-Keyboard

Beschleunigungsspannung

200V bis 30kV

Wolfram System

Typ AEI Base Filament

Auflösung

3.5nm @30kV

5,5nm @30kV BSD - VP Mode

Vergrößerungsbereich 15x bis 300.000x

Probenstrom 1pA - 1uA

Detektoren

SE (Everhardt Thornley)

VPSE

BSD-4Quadranten

Infrarot-Kamera, Chamber View mit Infrarot Beleuchtung

SCA  - Specimen Current Amplifier

Verstärker zum Messen des Probenstrom

Externe Kontrolle

für "Remote" Zugriff z.B. vom EDX System

inkl. Software Lizenz REMCON

Probentisch / kartesisch

5 Achsen motorisiert

X=100mm

Y=125mm

Z= 60mm (35mm motorised)

T= bis 90°Grad

R= 360° kontinuierlich

Joystickbox zur Tischkontrolle

Probenkammer 300mm x 265mm x 216 hoch

EDX Port für X-Ray Analyse

Freie Kammerflansche unterschiedlicher Größe


Zeiss User-Interface zur komfortablen Gerätesteuerung

mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)

Bild Verarbeitung    Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel

Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition /

Pixel Averaging / Frame Averaging

Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit

SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel

System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows10®,

bedient durch Maus, Tastatur und

OptiBeam®* Mode     

Resolution, Depth, Analysis







Bild 3: Zeiss/LEO 1450
Bild 4: Carl Zeiss User Interface






Zeiss User Interface Hard Panel

für einfachste Bedienung der Software alle

Hauptfunktionen auf Drehreglern oder Tasten


Vakuum-System

Große Leitungsquerschnitte Ø 25mmmit Anti-Vibrations-Block

Vor - Vakuum - Drehschieberpumpe

System - Vakuum - Turbopumpe

VP Variables Vakuum 10Pa bis 400Pa


REM Zubehör:

2. Firing Unit / für schnellen Kathodenwechsel

10x Kathoden

8/9 fach Karusell-Probenteller,

Systemwerkzeug

2 Arbeitstische, für REM und EDX


Nicht mehr verfügbar

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LEO 400er Systeme

Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop

Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440



Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.

Bild 5: LEO 400er System

Unser reichhaltiges Ersatzteillager garantiert Ihnen noch einen jahrelangen Betrieb Ihres liebgeworden System


Fast alle Baugruppen noch ab Lager lieferbar

Alle genannten Markennamen, Logos, Programme und Warenzeichen sind Eigentümer der jeweiligen Inhaber.

Das Copyright der auf diesen Seiten gezeigten Bilder liegt bei Carl Zeiss Microscopy GmbH, 73447 Oberkochen

und bei Target-Messtechnik

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