Gebrauchtgeräte

Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot 

                                                                                                                 

Rasterelektronenmikroskope


Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.

Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.


Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:

Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme

ergänzen unser Angebot.


Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von  Element-Standards, (Neu/Gebraucht).


Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO MA15


REM: Ausstattung / Spezifikationen

Gerät mit Wolfram Kathode

Hochvakum und variables Vakuum bis 400Pa möglich


Gerät ist Luftgekühlt / kein Kühlwasser erforderlich


REM: Ausstattung/Spezifikationen

Gerät mit Wolfram Kathode (zusätzlich 2. FiringUnit/Wehneltzylinder)

Anregungs-Spannung    0.2 to 30 kV

Vergrößerungsbereich   < 7 to 1,000,000x

Sondenstrom                  0,5pA – 5uA


Auflösung HV SE-Modus   

     3.0nm @30kV mit SE

     4.0nm @30kV mit BSE

     8.0nm @ 3kV SE im Hochvakuum

Detektoren

      ETSE – Detektor (Everhart-Thornly Sekundär Elektronen Detektor)

      CZ-BSD-4Quadranten Detektor „lens mounted“(Rückstreu-Elektronen -Detektor)

      Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung

OptiBeam®Modi

     Resolution, Depth, Analysis, Field


External Control- für Remote Zugriff z.B. vom EDX System


Tisch, 5 Achsen motorisiert, Kartesisch, Probenhöhe max. 100mm

      X = 125 mm, Y = 125 mm, Z = 50 mm

      T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)


Joystickbox, Maus, Kontrollpanel  zur Tischkontrolle


Probenkammer Ø 365 mm Innendurchmesser und 275mm Höhe

     10 Kammerflansche, unterschiedliche Größen

     an Kammer und Tür, davon 1x für EDX, 1x WDX mit Rowlandgeometrie.

     EDX und EBSD Detektoren direkt untereinander (senkrecht zur Tischachse)


EDX Port für X-ray Analyse   variable 8.5 -20 mm WD und 35° Abnahme-Winkel


Aperturenwechsler, 3fach mechanisch


Vakuum System,

Große Leitungsquerschnitte Ø 25mm mit Anti-Vibrations-Block

      Vorvakuum -     Vorpumpe Edwards RV12, mit Ölnebelfilter

      Hochvakuum -  Turbomolekular Pumpe

VP® Druckbereich      10 - 400Pa


ZEISS User Interface/ Hardware Bediener Interface

     Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung,  inkl. PC-Keyboard


Software

WIN10® Ultimate  64Bit,      PC Midi Tower, 2x 27“ TFT, PC Maus cordless

Zeiss Smart SEM 64Bit / (aktuelle Version ) div. Lizenzen


Optionale Software Lizenzen

REMCON                        Zur Fernbedienung z.B. vom EDX über RS232

Dual Channel                 Simultane Darstellung zweier unterschiedlicher Echtzeitsignale auf 1 oder 2 Monitoren

Stage Center Feature    Automatisches Zentrieren eines beliebigen Bilddetails

                                        Gamma&LUT Transfomation Live Verstärkung von Gamma und LUT LookUp Tabellen

 

Bild Verarbeitung    
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition
Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel
System Kontrol    SmartSEM™ mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss User Interface Hard Panel.
Mehrsparchiges GUI deutsch/englisch (Grafik Benutzer Interface)

 

REM Zubehör:       2ter Wehneltzylinder für W-Kathode, 10xW-Kathoden, Systemwerkzeug

                                9fach Karusell Probenhalter (für 13mm Stiftprobenteller),

                                2 Schwalbenschwanz-Unterteile

                                (zur Benutzung eigener Probenhalter auf dem Probentisch)

 


 

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Rasterelektronenmikroskop LEO 1450VP


REM: Ausstattung/Spezifikationen

Arbeiten im:

Hochvakum und variables Vakuum bis 400Pa möglich

WIN10 Ultimate  64Bit,

PC Midi Tower, 2x 24“ TFT, PC Maus cordless

Zeiss Smart SEM 64Bit

ZEISS Hardware User Interface / inkl. PC-Keyboard

Beschleunigungsspannung

200V bis 30kV

Wolfram System

Typ AEI Base Filament

Auflösung

3.5nm @30kV

5,5nm @30kV BSD - VP Mode

Vergrößerungsbereich 15x bis 300.000x

Probenstrom 1pA - 1uA

Detektoren

SE (Everhardt Thornley)

VPSE

BSD-4Quadranten

Infrarot-Kamera, Chamber View mit Infrarot Beleuchtung

SCA  - Specimen Current Amplifier

Verstärker zum Messen des Probenstrom

Externe Kontrolle

für "Remote" Zugriff z.B. vom EDX System

inkl. Software Lizenz REMCON

Probentisch / kartesisch

5 Achsen motorisiert

X=100mm

Y=125mm

Z= 60mm (35mm motorised)

T= bis 90°Grad

R= 360° kontinuierlich

Joystickbox zur Tischkontrolle

Probenkammer 300mm x 265mm x 216 hoch

EDX Port für X-Ray Analyse

Freie Kammerflansche unterschiedlicher Größe


Zeiss User-Interface zur komfortablen Gerätesteuerung

mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)

Bild Verarbeitung    Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel

Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition /

Pixel Averaging / Frame Averaging

Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit

SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel

System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows10®,

bedient durch Maus, Tastatur und

OptiBeam®* Mode     

Resolution, Depth, Analysis

Zeiss User Interface Hard Panel

für einfachste Bedienung der Software

alle Hauptfunktionen auf Drehreglern oder Tasten


Vakuum-System

Große Leitungsquerschnitte Ø 25mm mit Anti-Vibrations-Block

Vor - Vakuum  -  Drehschieberpumpe

System - Vakuum   -  Turbopumpe

VP Variables Vakuum  10Pa bis 400Pa


REM Zubehör:

2. Firing Unit / für schnellen Kathodenwechsel

10x Kathoden

8/9 fach Karusell-Probenteller,

Systemwerkzeug

2 Arbeitstische, für REM und EDX





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FE - REM LEO 1530


REM: Ausstattung/Spezifikationen

FEG System

Thermische-Feldemmission

Auflösung

3.0nm @1kV bei 2mm WD

1.0nm @20kV bei 2mm WD

Vergrößerungsbereich 20x bis 900.000x

Probenstrom 4pA - 10nA


WIN7 Ultimate  64Bit, PC

Midi Tower QuadCore, 2x 24“ TFT, PC Maus cordless

ZEISS Hardware User Interface / inkl. PC-Keyboard

Zeiss Smart SEM 64Bit

Detektoren

In-Lens, annular

SE2

BSD-4Quadranten

Infrarot-Kamera, Chambr view mit Infrarot Beleuchtung

External Kontroll

für "Remote" Zugriff z.B. vom EDX System

inkl. Softare Lizenz REMCON

Probentisch

3 Achsen motorisiert, euzentrisch

X=75mm

Y=75mm

Z=25mm

T= -15°Grad bsi 90°Grad

R= kontinuierlich

Joystickbox zur Tischkontrolle

Probenkammer 356mm x 255mm hoch

EDX Port für X-Ray Analyse bei 8.5mm WD und 35°Grad

Freie Kammerflansche unterschiedlicher Größe

Vakuum-System Ölfrei

Vor - Vakuum -  EDWARDS XDS10

System - Vakuum   -  Turbopumpe

Gun - Vakuum  -   Ionen Getter Pumpe


Wasserumlaufkühler: Von der Hejden Kühlmobil


Zeiss User-Interface zur komfortablen Gerätesteuerung

Bild Verarbeitung    Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel

Signal Verarbeitung  mit  Integration oder Addition /

Pixel Averaging / Frame Averaging

Bild Anzeige  -  Flicker-frei XVGA Monitor mit

SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel

System Kontrol    SmartSEM™** mit Windows7®,

bedient durch Maus, Tastatur und

Zeiss User Interface Hard Panel.

Mehrsparchiges GUI (Grafik Benutzer Interface)

OptiBeam®* Mode     

Resolution, Depth, Analysis, Large Field


REM Zubehör, 8/9 fach Karusell-Probenteller, Systemwerkzeug

Nicht mehr verfügbar

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LEO 400er Systeme

Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop

Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440



Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.

Unser reichhaltiges Ersatzteillager garantiert Ihnen noch einen jahrelangen Betrieb Ihres liebgeworden System


Fast alle Baugruppen noch ab Lager lieferbar

Alle genannten Markennamen, Logos, Programme und Warenzeichen sind Eigentümer der jeweiligen Inhaber.

Das Copyright der auf diesen Seiten gezeigten Bilder liegt bei Carl Zeiss Microscopy GmbH, 73447 Oberkochen

und bei Target-Messtechnik

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