Target - Messtechnik Email: info@target-messtechnik.de
Wir haben ständig eine Auswahl gebrauchter Geräte im Angebot
Rasterelektronenmikroskope / Heiztische / Sputteranlagen
Chamber View-Infrarot Kamera´s
Wir bieten gebrauchte Rasterelektronen-Mikroskope, ( REM ) an. Komplett überholt, dazu den Service und System-Schulung.
Natürlich liefern wir auch Ersatzteile und bieten für unsere Geräte Wartungsabkommen an.
Eine reichhaltige Liste an Sonder-Zubehör, wie z.B:
Spezialprobentische z.B. Heiztische oder Infrarot-Kamera-Systeme
ergänzen unser Angebot.
Zu unseren Leistungen gehört auch die Lieferung von Element-Standards, (Neu/Gebraucht).
________________________________________________________________________________________________________________________
Rasterelektronenmikroskop ZEISS - EVO60EP extended pressure
REM: Ausstattung/Spezifikationen
Gerät mit Wolfram-Kathode
vorbereitet für Lab6 Betrieb. D.h. IGP Pumpsystem für Gunbereich und die benötigten Ventile sind vorhanden. Optional mit zusätzlicher LaB6 Kathode
(einfach Umsteckbar und via Software anwählbar)
Detektoren
SE, VPSE, BSD-4Quadranten
Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung
External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System
Inklusiv Softwarelinzenz REMCON
Probentisch
5 Achsen motorisiert, Kartesisch
X = 100 mm, Y = 125 mm, Z = 123mm (35 mm motorisiert, 61mm mit Distanzstück),
T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)
Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben
Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller
Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus
ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface
Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard
Probenkammer 420 mm (Ø) x 310 mm (h),
8 Kammerflansche, unterschiedliche Größen
an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen
Auflösung HV SE-Modus
3.0nm mit Wolframkathode
2.0nm mit LaB6-Kathode
XVP® RE-Modus
4.5nm @ 30kV (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)
Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV
Vergrößerungsbereich 5 to 1,000,000x
Sondenstrom 0,5pA – 5uA
EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel
Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)
Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
EP Mode: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe
IGP- für Gunbereich
XVP® Druckbereich / EP Druckbereich
5 - 750Pa with air
5 - 3000Pa with air
5 - 2000Pa wizh water vapour
PC Midi Tower
®WIN10 / 64Bit, ,
2x 24“ TFT, PC Maus cordless
Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen
Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige - Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel
System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)
OptiBeam®* Mode Resolution, Depth, Analysis, Large Field
Das Gerät ist luftgekühlt
________________________________________________________________________________________________________________________
EDX System Brukker SDD
optional / Spezifikation folgen..........in Arbeit
_______________________________________________
Rasterelektronenmikroskop ZEISS - EVO40XVP variable pressure
REM: Ausstattung/Spezifikationen
Gerät mit Wolfram-Kathode
Detektoren
HV-SE, BSD-4Quadranten
Infrarot-Kamera, ChamberView mit infrarot Beleuchtung
External Control - für Remote Zugriff z.B. vom EDX System
Inklusiv Softwarelinzenz REMCON
Probentisch
5 Achsen motorisiert, Kartesisch
X = 80 mm, Y = 80 mm, Z = 35 mm motorisiert
T = 0° - 90°, R = 360°(kontinuierlich)
Probenbühne mit Schwalbenschwanz-Aufnahme für verdrehsichere Montage der Proben
Karussel Probenteller 8/9 fach Stiftprobenteller
Maximales Probengewicht
bis zu 0,5 kg gekippt
bis zu 2,0 kg ungekippt
Maximale Probengröße
Höhe 100mm (ohne ZTR Modul)
Durchmesser 200mm bei Analysenabstand
Probenkammer 365 mm (Ø) x 220 mm (h),
7 Kammerflansche, unterschiedliche Größen
an Kammer und Tür. Für die Anbringung von Zusätzen
Joystickbox zur Tischkontrolle/ und Maus
ZEISS User Interface / Hardware Bediener Interface
Drehregler und Tasten zur komfortablen Bedienung, inkl. PC-Keyboard
Auflösung
HV SE-Modus 3.0nm mit Wolframkathode
XVP BSD 4.5nm (BSD – LM 4Q-BSD-Detektor)
Anregungs-Spannung 0.2 to 30 kV
Vergrößerungsbereich 7 to 1,000,000x
Sondenstrom 0,5pA – 5uA
EDX Port für X-ray Analyse 8.5 mm WD und 35° Abnahme-Winkel
Vakuum System - mit erweitertem Niederdruckbereich (EP)
Vorvakuum - Standart: Drehschieberpumpe, 2stufig, mit Ölnebelfilter
Hochvakuum - Turbomolekular Pumpe
XVP® Druckbereich 5 - 750Pa
PC Midi Tower
®WIN10 / 64Bit, ,
2x 24“ TFT, PC Maus cordless
Zeiss SmartSEM® 64Bit / div. Lizenzen
Bild Verarbeitung
Auflösung: bis zu 3072 x 2304 Pixel
Signal Verarbeitung mit Integration oder Addition
Bild Anzeige- Flicker-frei XVGA Monitor mit SEM Bild angezeigt bei 1024 x 768 pixel
System Kontrol SmartSEM™** mit Windows®, bedient durch Maus, Tastatur und Zeiss
Mehrsprachiges GUI (Grafik Benutzer Interface)
OptiBeam®* Mode Resolution, Analysis, Large Field
Das Gerät ist luftgekühlt
________________________________________________________________________________________________________________________
LEO 400er Systeme
Sie betreiben noch ein LEO 400 Rasterelektronenmikroskop
Egal ob aus der Baureihe : 420, 430, 435VP, 438VP oder 440
Wir bieten Ihnen Service dazu an, oder auch nur Ersatzteile.
Unser reichhaltiges Ersatzteillager garantiert Ihnen noch einen jahrelangen Betrieb Ihres liebgeworden System
Fast alle Baugruppen noch ab Lager lieferbar
________________________________________________________________________________________________________________________
Alle genannten Markennamen, Logos, Programme und Warenzeichen sind Eigentümer der jeweiligen Inhaber.
Das Copyright der auf diesen Seiten gezeigten Bilder liegt bei Carl Zeiss Microscopy GmbH, 73447 Oberkochen
und bei Target-Messtechnik
.
Copyright @ All Rights Reserved Target - Messtechnik